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ISSN : 1225-309X(Print)
ISSN : 2288-7172(Online)
Journal of the mineralogical society of korea Vol.29 No.2 pp.73-78
DOI : https://doi.org/10.9727/jmsk.2016.29.2.73

Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS) Application to Mineral Formation

Kiho Yang, Jinwook Kim*
Department of Earth System Sciences, Yonsei University, Seoul, Korea)
Corresponding author: +82-2-2123-5668, jinwook@yonsei.ac.kr
June 7, 2016 June 14, 2016 June 18, 2016

Abstract

The oxidation states of structural Fe in clay minerals often reflect the paleo-redox conditions of the depositional environments. It is inevitable to utilize the high resolution of transmission electron microscopy (TEM) to investigate the mechanism of mineral transformation at nano-scale. The applications of TEM- electron energy loss spectroscopy (EELS) for quantification of Fe(III)/ΣFe from the K-nontronite formation associated with structural Fe(III) reduction in nontronite under deep subseafloor environment were demonstrated. In particular, quantification of the changes in Fe-oxidation state at nanoscale is essential to understand the mechanisms of minerals formation. The procedure of EELS acquisition, quantitative determination of Fe-oxidation states, and advantages of EELS techniques were discussed.


전자에너지 손실분광 분석법을 이용한 광물에서의 정량적 철 산화수 측정과 분석

양 기호, 김 진욱*
연세대학교 지구시스템과학과

초록

점토 광물의 구조 내에 들어 있는 철의 산화수는 퇴적환경의 산화/환원 조건에 대한 정보를 제 공하여 준다. 이러한 광물형성의 메커니즘을 밝히기 위해서는 고해상도를 가진 전자현미경을 이용한 나노 스케일 분석이 불가피하다. 투과전자현미경에 장착되어있는 전자에너지 손실분광 분석법(EELS)을 이용하여 정량적 철 산화수 분석을 논트로나이트 점토광물 구조 내 철의 환원으로 인한 K-논트로나 이트의 형성의 예를 들어 설명하고자 한다. 철 산화/환원의 정량적 분석을 통하여 퇴적물의 위치에 따 른 철 산화도 측정은 광물변화에 대한 연구를 용이하게 해준다. 따라서 본 논문은 전자에너지 손실분 광의 분석방법 및 장점을 소개함을 목적으로 한다.


    Ministry of Oceans and Fisheries
    KOREA INSTITUTE OF MARINE SCIENCE&TECHNOLOGY PROMOTION

    서 론

    미세 규모의 광물 분석에 있어서 지난 수십 년 동안 고분해능 투과전자현미경(HRTEM, High Resolution Transmission Electron Microscopy)은 가 장 중요한 분석 기법이었다. 고분해능 투과전자현 미경은 명시야상(Bright-field)과 암시야상(Dark-field) 이미지 분석, 전자 회절 패턴 분석(SAED : Sel- ected Area Electron Diffraction), 화학 조성 분석 (EDS : Energy Dispersive Spectrometer)으로 나노 단위의 분석을 가능케함으로서 광물학 연구에 큰 공헌을 하였다(Choi, 2013). 최근에는 화학조성 분 석에 있어서 투과전자현미경에 부착된 전자 에너 지 손실 분광 분석법(EELS, electron energy loss spectroscopy)이 보편화되고 있으며, 이를 이용하 여 투과전자현미경에서 전자 에너지 손실 분광을 이용한 전이금속의 산화수와 결합 정보(bonding environment)를 파악하는데 폭넓게 사용되고 있다 (Garvie and Craven, 1994; Colella et al., 2005; van Aken et al., 1998; Calvert et al., 2005; Schmid and Mader, 2006; Daulton and Little, 2006). 그러나 대부분의 선행 연구는 재료 공학 (engineered materials) 분야에 초점이 맞춰져 있었 으며, 자연 환경 광물에 대한 분석은 비교적 최근 에 이뤄지고 있다(Zhang et al., 2010, Garvie et al., 2008, Calvert et al., 2008; Kim and Dong, 2011; Yang et al., 2016). 전자 에너지 손실 분광 을 이용한 정량적 철 산화수(Fe3+/ΣFe) 측정법은 광물시료를 투과전자현미경 이미지 관찰과 병행 하며 화학 분석을 시행할 수 있는 장점을 가진다. 전통적으로 자연 광물에서 정량적 금속 산화수 분 석은 습식 화학(wet chemistry) 분석, 뫼스바우어 분광법(Mössbauer spectroscopy), 또는 마이크로 탐침(EPMA) 분석 결과를 이용한 광물의 화학양론 (stoichiometry)과 전하 균형(charge balance) 계산 을 통하여 진행되어왔다(Cavé et al., 2006). 이러 한 기존의 방법은 공간 분해능(spatial resolution) 에서 한계를 보이며, 대체로 미립질(fine-grained) 샘플 또는 공간적 이질성(spatial heterogeneity)을 보이는 광물 및 지질시료의 경우 분석 부위 및 특 정 입자를 특정하기 어려운 단점이 있다. 반면 투 과전자현미경을 이용한 전자 에너지 손실 분광 분 석법은 정량적 금속의 산화수 측정에서 높은 공간 분해능의 이점을 가진다(van Aken and Liebscher, 2002; van Aken et al., 1998; Garvie and Buseck, 1998; Kim and Dong, 2011; Yang and Kim 2012; Yang et al., 2016). 공간 분해능은 투과전자 현미경의 탐침 크기(probe size)에 의해서 결정이 되며, 주사투과전자현미경(STEM, scanning transmission electron microscope)에서 0.3 nm의 공간 분해능을 가지므로 자연광물에 대한 나노 스케일 의 분석이 가능하다(Garvie and Buseck, 1998). 본 연구에서는 전자 에너지 손실 분광 분석법에 대한 소개와, 정량적 철 산화수의 측정 방법에 대하여서 남태평양 심해저 퇴적물에서 발견/획득한 K-논트로 나이트 점토광물의 예를 들어서 설명하고자 한다.

    본 론

    EELS 스펙트럼

    전자 에너지 손실 분광 분석법은 가속된 전자가 충분히 얇은 시편과 반응할 때 발생하는 비탄성 산 란(inelastic scattering) 전자들의 에너지 손실을 측 정함으로써 반응 부위의 원소, 조성 및 화학 결합 상태 등의 원하는 정보를 얻는 방법이다. 전자 에 너지 손실 분광 스펙트럼의 가장 기본적인 형태는 Fig. 1과 같으며, 저손실(low loss excitation) 영역 과 고손실 영역(Core loss ionization)으로 크게 나 뉜다. 저손실 영역(0~50 eV 에너지 손실 부분)은 영손실 피크(zero-loss peak)와 플라스몬(plasmon peak)으로 구성되어 있다. 영손실 피크는 탄성산란 (elastic scattering)에 의한 결과를 나타내며, 시료 의 두께에 대한 정보 뿐만 아니라 전자 에너지 손 실 분광 스펙트럼 에너지 손실의 기준점으로서 주 요하게 사용된다. 50 eV 이상의 에너지 손실 구간 을 고손실 영역(core-loss region)이라고 하며, 가속 된 전자가 전자각과의 비탄성(inelastic) 상호작용 에 의한 정보를 가지고 있다. 고손실 영역에서는 이온화 에지(ionization edge)가 나타나며, 이는 에 너지 손실 에지 근방 구조(ELNES, energy-loss near -edge structure)와 연장된 에너지 손실 미세 구조 (EXELFS, extended energy-loss fine structure)로 구성되어 있다. 이온화 에지의 에너지 손실 정도에 의하여 광물 시료의 미세부위 정성 분석이 가능하 며, 에너지 손실 에지 근방 구조(ELNES)에서는 결 합구조에 대한 정보와, 연장된 에너지 손실 미세 구조(EXELFS)에서는 특정 원자 주위 원자의 배위 수 정보를 알 수 있다. 이와 같이 전자 에너지 손 실 분광 스펙트럼을 이용하여 정성/정량 분석이 가 능하다. 본 연구에서는 고손실 영역에서 나타나는 이온화 에지를 이용하여, 자연 광물 내 금속의 정 량적 산화수 측정을 진행하였다.

    EELS 분석 조건

    전자 에너지 손실 분광 스펙트럼을 이용하여 시 료를 정성/정량 분석을 진행할 때, 중요한 것은 에 너지 분해능이며(energy resolution), 영손실 피크 의 반폭치(FWHM, full-width-at-half-maximum)를 확인하는 방법으로써 투과전자현미경의 에너지 분 해능을 측정한다. 일반적으로 전계 방사형 전자총 (FEG, field emission gun)을 사용하는 투과전자현 미경에서 에너지 분해능은 1.0~1.5 eV 수준을 나 타내며, 단색기(monochromator)가 장착되어있는 최 신의 투과전자현미경에서는 0.1 eV 이하의 매우 높은 에너지 분해능을 가진다. 본 연구에서는 1.0 eV의 에너지 분해능의 투과전자현미경 시스템을 자연 광물 분석에 사용하였다. 또한, 시편의 두께 가 전자 에너지 손실 분광 스펙트럼 분석에서 중요 한 변수가 되며, 전자 에너지 손실 분광 분석에서 는 투과된 비탄성산란 전자를 검출하므로, 일반적 으로 시편이 얇을수록 분석에 유리하다. 따라서, 초박편 미세 절단기(Ultramicrotome), 집속 이온 빔 (FIB, focused ion beam), 이온 밀링(ion-milling) 등 의 방법을 이용하여 시편을 최대한 얇게 만들어야 하며, 통상적으로 70 nm 이하에서 분석을 진행한다.

    EELS 스펙트럼의 획득

    본 연구에서 전자 에너지 손실 분광 스펙트럼은 한국기초과학지원 연구원(KBSI, Korea Basic Science Institute) 서울센터에 설치되어있는 가속전압 300 kV의 TECNAI G2 F30 ST FE-TEM (FEI Company, USA)에 장착되어있는 Tridiem Gatan Imaging Filter (GIF) 전자 에너지 손실 분광 분석기로 측정되 었다. 스펙트럼의 획득 조건은, 수렴각(convergence angle, α) = 0.5 mrad, 수집각(collection angle, β) = 20 mrad, 입사 조리개(entrance aperture) = 2.0 mm, 에너지 분산(energy dispersion) = 0.1 eV/channel (0.1 eV/channel × 1024 pixels = 102.4의 field of view), 에너지 분해능(energy resolution) = 1.0 eV이며, 스펙트럼의 획득 시간 (acquisition time)은 5초로 진행하였다. 모든 전자 에너지 손실 분광 스펙트럼의 획득은 주사투과전 자현미경(STEM) 모드에서 진행하였다. 전자 에너 지 손실 분광 스펙트럼의 획득은 다음과 같은 순서 로 진행하였다.

    • 1) 측정하려는 관심 샘플 설정 : 투과전자현미경 Cu-grid 위에 올려 있는 샘플에서 원하는 관찰 지 역을 투과전자현미경 명시야상 모드에서 확인을 한다. 본 연구에서는 남태평양 현무암질 해양지각 과 맞닿아 있는 심해저 퇴적층에서 확보한 K-논트 로나이트 점토 광물에 대하여서 분석을 진행하였 다(site U1365 70.16 mbsf, meters below seafloor, site U1369 15.52 mbsf)(Fig. 2). K-nontronite 점 토광물에 대한 세부 정보는 Yang et al. (2016) 선 행 연구에 기술되어있다. 고배율 TEM 명시야상 이미지와 동일한 점토광물에서 진행된 EDS 스펙 트럼의 분석을 통하여, 본 연구에 사용된 두 개의 점토광물은 Fe의 함량이 높고, K을 함유하고 있는 K-논트로나이트임을 확인하였다(Fig. 2). 이와 같 이 K을 함유하고 있는 특성은 동일지역 상층부 퇴 적층에 있는 논트로나이트에서는 발견할 수 없었 으며 해양지각 현무암 경계의 하부 퇴적층에서만 발견이 되었다. 따라서 K-논트로나이트가 발견되 는 하층부 퇴적층 부분적으로 환원 환경을 가질 것 으로 예상되기에 K-논트로나이트에서 구조 내 철 의 산화수 측정을 진행하였다(Yang et al., 2016).

    • 2) EELS 스펙트럼 획득 : K-논트로나이트 점토 광물에서 Fe-L2,3 이온화 에지 전자 에너지 손실 분광 스펙트럼을 획득하였다. Fe-L 에지는 700- 730 eV에서 나타난다(Fig. 3). Fe-L 에지의 신호 (signal)는 전자 에너지 손실 분광 스펙트럼에서 배 경 값(background)이 제거된 값으로, 본 연구에서 는 power law 배경 값 제거 함수를 적용하였다. 함수 적용을 위하여 참조 범위를 지정해야 하며, Fe-L3 에지의 이온화 지점 앞 구간의 30 eV를 선 정하여 적용하였다(van Aken et al., 1998)(Fig. 3. a). 배경 값 제거 함수 적용은 Gatan Digital Mircograph s/w ver. 1.8을 사용하였다.

    정량적 철 산화수 측정

    산화수에 따른 Fe-L에지의 에너지 손실 에지 근 방 구조(ELNES)의 변화를 이용하여, 광물에 포함 되어 있는 철의 산화수 측정에 대한 시도가 계속하여 진행되어 왔으며, Fe-L2,3에지의 백색선(white line) 적분비(L3/L2)를 정량적 철 산화수 측정에 사용되 었다(Taft and Krivanek, 1982; Leapman et al., 1982). 최근에는 나노 스케일의 철 환원 박테리아 와 자철석 간의 반응 작용으로 인한 철 산화수 변 화와 능철석으로의 변이 과정에서 철 산화수 변화 를 전자 에너지 손실 분광 스펙트럼를 이용하여 정 량적 측정이 진행된 바가 있으며(Kim and Dong, 2011), 남태평양 심해저 퇴적물에서 K-논트로나이 트의 형성에서 구조 내 철의 산화수 변화를 전자 에너지 손실 분광 스펙트럼의 Fe-L 에지의 L3/L2 의 면적비를 이용하여 정량적 측정이 진행되었다 (Yang et al., 2016). 전자 에너지 손실 분광 스펙 트럼을 이용한 광물에 포함되어 있는 철의 정량적 산화수 계산은 아래와 같은 순서로 진행되었다.

    • 1) 배경 신호 값 제거(background signal removal) : 주사투과전자현미경(STEM) 모드에서 획득한 Fe-L2,3 전자 에너지 손실 분광 스펙트럼에서 배경 신호 값 을 제거하여, 에지 신호(edge signal)만을 획득한다 (Fig. 3. a).

    • 2) EELS 에지 신호의 정규화(normalization) : 정량적 철 산화수 측정 방법에는 여러 방법이 보고 되어있으나, 본 연구에서는 Fe(III)의 비율(Fe3+/Σ Fe)과, 적분 면적비(L3/L2)의 상관관계를 나타낸 표준 곡선을 적용하여 분석을 진행하였다(van Aken et al., 1998)(Fig. 3. b). 주의해야 할 것은 전자 에 너지 손실 분광 스펙트럼은 나노미터 스케일의 미 세 부위를 측정하게 되므로, 측정 부위의 두께의 차이가 전체적인 전자 에너지 손실 분광 스펙트럼 의 강도(continuum signal) 차이를 초래할 수 있다. 따라서 정량적 철 산화수 계산에서는 이미 power law 함수를 적용하여 배경 값이 제거된 신호에서, continuum 신호 값을 추가적으로 제거하며, 이온 화 에지의 적분 면적 또한, 정해진 영역만을 계산 (피크 최고점 기준 ± 1.0 eV, 총 2 eV의 energy window)하여, 시료의 두께에 정규화(normalized) 된 EELS 에지 신호 값을 얻게 된다. 정규화된 전 자 에너지 손실 분광 에지 신호 값을 얻기 위하여 서, Double-Arctangent 함수를 적용하였으며, Gatan Digital Micrograph s/w ver. 1.8에서 진행하였다 (van Aken et al., 1998).

    • 3) Fe(III) 표준곡선(standard curve) 적용 : 정규 화된 전자 에너지 손실 분광 스펙트럼에서 Fe-L3 와 Fe-L2 백색선(white line) 에지의 적분 면적을 계산하여 L3/L2 값을 구하였다(Fig. 3. a 회색 음 영). 계산된 면적비를 van Aken et al. (1998)의 Fe(III) 표준곡선(standard curve)에 적용하여 광물 구조 내 철의 정량적 산화수를 측정할 수 있다. 본 연구에서 site U1365 70.16 mbsf의 K-논트로나이 트는 L3/L2 = 4.38이며, 이를 통하여서 약 ~47% 의 Fe(III) 정량적 철 산화수를 계산하였으며, site U1369 15.52 mbsf의 K-논트로나이트에서는 L3/L2 = 1.88, 약 ~4%의 Fe(III) 정량적 철 산화수를 계 산하였다(Fig. 3). 중요한 점은, Fe(III) 표준곡선을 적용하여 정량적 철 산화수 계산을 하기 앞서, van Aken et al. (1998)의 표준곡선이, 이용하고 있는 투과전자현미경-전자 에너지 손실 분광 시스템에 서 사용이 가능한지 확인하기 위하여 이미 철 산화 수를 알고 있는 시료를 이용한 검증이 수반되어야 한다. 본 연구에서는 100% Fe(III)로 구성되어 있 는 적철석(hematite) 철 산화광물과 습식 화학분석 (wet chemistry) 방법을 이용하여서 철 산화수를 알고 있는 미생물에 의해 환원된 논트로나이트(bioreduced nontronite, NAu-1)점토광물을 사용하였으 며, 이미 알고 있는 산화수와 전자 에너지 손실 분 광을 통하여서 측정된 산화수가 일치하여, 표준 곡 선을 본 투과전자현미경-전자 에너지 손실 분광 시 스템에 적용 가능함을 확인하였다(Mitsunobu et al., 2012; Koo et al., 2014; Yang et al., 2016).

    결 론

    광물 시료의 정량적 철 산화수 측정을 하기 위 한 다른 분석 방법들(뫼스바우어 분광법, EPMA, 습식 분석)과 비교하여, 전자 에너지 손실 분광 스 펙트럼을 이용한 측정법은 높은 공간 분해능(spatial resolution)을 가지는 장점이 있다. 통상적인 투과 전자현미경-전자 에너지 손실 분광 시스템에서 0.3 nm의 공간 분해능을 가짐으로써 나노 스케일의 광 물 분석과 미세 부위의 광물 변이(alteration) 분석 에 강점을 가진다. 또한 광물 시료에 대한 투과전 자현미경/주사투과전자현미경 직접 관찰과 함께 분 석이 진행됨으로써 광물의 텍스쳐 변화와 같은 성 질 변화의 확인과 동시에 정량적 금속 산화수 변화 의 측정이 가능한 장점이 있다. 특히 미생물과 광 물 간의 반응 작용과 같은 sub-micron 단위의 연구 에도 적용이 될 수 있는 미세 분석방법이다. 최근 단색화(monochromator) 장치와 수차 보정장치(Cs, Cc corrector)가 부착된 첨단 투과전자현미경-전자 에너지 손실 분광 시스템이 보급이 늘어나고 있으 며, 이에 따른 전자 에너지 손실 분광 스펙트럼의 에너지 분해능과 공간 분해능이 점점 더 좋아지고 있는 추세이다. 따라서 향후 전자 에너지 손실 분 광 분석법을 적용한 광물 내 금속의 정성/정량 산 화수 측정방법은 더욱 정교해질 것으로 예상되며, 앞으로 광물 연구에 있어서 많은 도움이 될 것으로 기대된다.

    사 사

    이 논문은 2016년도 해양수산부 재원으로 한국 해양과학기술진흥원의 지원을 받아 수행된 연구임 (국제해저지각시추사업).

    Figure

    JMSK-29-73_F1.gif

    The EELS spectrum including the zero-loss (elastic) peak, low-loss excitation (~50 eV), and core-loss ionization (160-800 eV). The zero-loss peak was used to determine the sample thickness (Data from Kim and Dong, 2011).

    JMSK-29-73_F2.gif

    Bright-field TEM micrographs of the clay fraction (< 1 μm) for sediment/basalt interface at the sites U1365 and U1369 showing (a) K bearing Fe-rich smectite (U1365, 70.16 mbsf) with Al/Si = 0.17, K/Si = 0.08, and Fe/Si = 0.52; and (b) K bearing Fe-rich smectite (U1369, 15.52 mbsf) with Al/Si = 0.36, K/Si = 0.06, and Fe/Si = 0.32 (Data from Yang et al., 2016).

    JMSK-29-73_F3.gif

    EELS spectra of Fe L2,3 for the K-bearing Fe-rich smectite (nontronite) at the basalt/sediment interface showing (a) distinct peaks separation at 708 and 721 eV, and (b) the plotted integral ratio of Fe L3/L2 on the universal curve as a function of Ferric iron concentration and Fe L3/L2 (Data from Yang et al., 2016).

    Table

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